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BGA包接口解决方案

接触球栅阵列装置的挑战和解决方案

滚珠网格阵列套餐已经在使用过二十年,然而这些数字仍在增长。这是一个非常多功能的包装,在接触密度和整体接触数方面提供了许多优势。不仅高球计数BGA提供高度集成设备的许多I / O路径,它们还可以通过提供大规模平行的电源和接地路径来改善电流输送能力和高功率器件的电压稳定性。

BGA还支持小型化作为WLCSP设备的首选包装。

科湖BGA解决方案

测试接触器/探头头解决方案

RF(cmwave)探头带宽高达40 GHz,均匀尖端和长寿命

ACE测试接触器为功率放大器,RF开关和移动通信提供最佳的RF性能,可用于精细间距FBGA,QFN和晶圆级套件。支撑音高低至0.4毫米,卓越的性能适用于电流消耗,增益,标准差和功率效率。

ACE探测器提供特殊的电气性能,DC和RF,并由高速™基础材料制造,这是舒尔的ECT联系产品组的专有材料。

兼容所有设备类型,电镀,和螺距;以及所有的测试应用,包括模拟设备,条带测试和晶圆规模的测试。这种材料和结构创造了一个非常坚固的探针,具有非常好的工作寿命和最好的产量。电子和机械性能,再加上较长的探针寿命,提供了较低的测试总成本,这是射频接触器前所未有的。

大型I / O计数设备和高端数字测试的最佳性能

Quadtech探头溶液具有坩埚尖端强度,其竖直于横向力而不弯曲,加上增强的合规窗口以适应包装堆叠高度公差。

ATLAS提供电气性能,允许客户测试设备的真实性能。ATLAS WLCSP测电子娱乐手机版游戏网址试接触器通过应用于COHU的Quadtech平面探头技术,实现机械可靠性。ATLAS提供短电路,电容和电感较低,是WLCSP设备的功能和交流参数测试的理想选择,这些设备需要大量测试应用中的高系统带宽和吞吐量增益。

十字形尖端提供增加的尖端刚度,具有更大的断裂。客户的优势包括接触器清洁,探头寿命增加,产量增加,减少了接触器维护的减少时间之间的运行时间。

无与伦比的性能径向探头,用于最艰难的测试条件

CBOA接触器和探头负接触器是用于在晶片上接触高频器件进行封装测试或最终测试的解决方案。CBOA探针的鲁棒设计和材料通过提供更长的寿命和更高的产量来承受大批量试验的严格。均匀的DUT侧柱塞在清洁和增加的探针寿命之间提供更长的运行时间。

cBoa采用不锈钢弹簧进行三温测试,工作温度为-55°C至+155°C。带宽高达27 GHz, cBoa可以用来测试一些最高频率的设备。

增强型合规窗口良好地容纳封装堆叠高度公差。

高性能Kelvin接触高批量生产测试

CPython Kelvin接触器和探头头提供卓越的电气和热性能,节省大量成本。这使得CPython Kelvin适用于模拟和混合信号集成电路的实验室和大批量生产测试 - 适用于电源控制,A-D和D-A转换器,音频,视频,功率放大器,光子学,光学MEMS和传感器等应用。

cPython开尔文探头电气隔离和机械独立的力和感觉路径的真正开尔文接触,以采取准确的测量,即使在高电流条件下。这些强大的探测器提供数十万次插入或着陆,带宽高达26ghz。cPython Kelvin探针可以着陆0.4 mm距的目标,其探针间距为90µm,可以着陆小目标。cPython探针与同构技巧可以用于优化性能。

下一代5g mmwave的最低码,高达54+ GHz

cRacer采用强大的弹簧探针技术,用于测试具有细节距和WLCSP兼容性的晶圆探针(颠簸/垫)应用的模拟封装或探针头——长度从150µm到650µm,覆盖了大多数5G设备。

克拉克配有不锈钢弹簧,用于三温度测试和操作温度-55°C至+ 155°C的性能。

行业优选的高性能,高价值,低成本真正的kelvin Quadtech接触解决方案

双子座开尔文探针和接触器提供了一流的解决方案,轻松可靠,真正的开尔文接触高容量的最终测试,无论是孤立封装和晶圆级器件。双子座开尔文是一个理想的解决方案的设备,如电源控制器,A-D和D-A转换器,功率放大器和音频和视频电路。

在3.22毫米的测试高度,双子座开尔文是一个优秀的全面弹簧探头,电感低,带宽高,承载能力优异。DUT侧尖端设计精确地保持其探针寿命的100μm间距。客户报告典型的探头寿命为500 k至800 k封装插入,或在晶圆级测试中超过2M触地面。偏移尖端允许可管理的电路板布局,板侧间距为0.4mm。

同轴生产解决方案,用于测试高端数字应用到60 Gbps

专门设计用于通过接触器到测试系统将设备欠测试(DUT)的天然阻抗维持,通过最小化信号反射(返回损耗)来最大化高频电力传输。

图标的金属机身是法拉第屏蔽/笼子,可减少串扰(电磁辐射)信号抖动的主要原因。除此之外,铝体是否堵塞了静态和非静态外部电场(随机噪声)。

行业首选高性能,高价值,低成本Quadtech接触解决方案

汞探头和接触器是实验室的优秀弹簧探针,但实验室是设计的高批量生产测试所需的强大品质。它们独特的设计可确保低,恒定电阻,长寿命和高测试产量的优异电镀质量。汞探针可提供0.3mm,0.4mm,0.5 mm和0.8mm的最小间距,为任何器件间距提供最佳性能。汞探头具有高达22 GHz的带宽,可以携带超过3个电流。汞是任何测试应用的绝佳选择。

包装,晶片或OTA测试的最高性能和最强大的RF宽带生产解决方案到100 GHz

XWAVE接触器采用专利的混合联系技术来优化RF性能,并为最具挑战性CMWAVE和MMWAVE设备提供生产测试的稳健性。XWAVE接触器内部是嵌入式贴片天线和COPLANAR WAVEGUIDE,用于无线和有线通信。

除了无线通信XWAVE接触器之外,通过使用与DUT直接连接的共平面波导结构,可以最大限度地减少DUT和测试仪之间的过渡次数,绕过PCB,并使用同轴电缆或波导连接到测试仪。

  • 联系挑战

    • 高的球数
    • 精细的球场(和变细)
    • 平面性问题
    • 结盟
    • 提单适用于Kelvin应用程序
    • 在不产生可焊性问题的情况下进行良好的联系
  • 接触器特色

    • 超级尖端
    • 较低力的探针
    • 大量合规窗口
    • 细胞间位开尔文探头
    • Full-co-axial信号路径
    • 尺寸稳定的接触材料
    • 浮动对齐板
    • 机械仿真能力
  • 包装功能

    • BGA等区域阵列提供了任何包装类型的最高接触密度
    • 高球计数可以容纳高度集成设备所需的大量I / O路径
    • 高球计数还允许大量的功率和接地路径,以适应高功率要求,并降低清洁电力输送的电感

专业知识

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