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同轴溶液提供出色的信号隔离和阻抗控制，可扩展到高达60 GPB的大型封装平台。
设备要求
- 大型阵列包
- 带宽支持快速边缘速率
- 输出切换过程中清洁电力输送的低电感
- 低压边缘触发器噪声低噪声
- 高引脚销隔离
接触器要求
- 高符合性（> 0.4毫米）
- 低力（> 20克）
- 低接触电阻（>50mΩ）
- 高电流（150 a）
应用程序
- 处理器：微处理器，图形处理器，应用处理器
- 逻辑：ASIC，PLD，FPGA和显示驱动程序
测试接触器（插座）/探头头解决方案
ACE接触器/探针头
用于FBGA和晶圆级包装的成本高效的RF接触器
ACE测试接触器为功率放大器，RF开关和移动通信提供最佳的RF性能，可用于精细间距FBGA，QFN和晶圆级套件。支撑音高低至0.4毫米，卓越的性能适用于电流消耗，增益，标准差和功率效率。
ACE探测器提供特殊的电气性能，DC和RF，并由高速™基础材料制造，这是舒尔的ECT联系产品组的专有材料。
兼容所有设备类型，夹板和俯仰;以及所有测试应用，包括单一的设备，条带测试和晶片级测试。材料和架构创建了一个非常强大的探头，具有非常有效的寿命和最佳产量。电气和机械性能与长探头寿命相结合，提供低总体测试成本，这对于RF接触器来说是前所未有的。
ATLAS接触器/探针头
大型I / O计数设备和高端数字测试的最佳性能
Quadtech探头溶液，具有坩埚尖端强度，突出到横向力而不弯曲，加上增强的合规窗口，以适应包装堆叠高度公差
ATLAS提供电气性能，允许客户测试设备的真实性能。ATLAS WLCSP测电子娱乐手机版游戏网址试接触器通过应用于COHU的Quadtech平面探头技术，实现机械可靠性。ATLAS提供短电路，电容和电感较低，是WLCSP设备的功能和交流参数测试的理想选择，这些设备需要大量测试应用中的高系统带宽和吞吐量增益。
十字形尖端提供增加的尖端刚度，具有更大的断裂。客户的优势包括接触器清洁，探头寿命增加，产量增加，减少了接触器维护的减少时间之间的运行时间。
CBOA接触器/探头头
高批量生产测试的经济高效，高性能接触器或探头头
CBOA接触器和探头负接触器是用于在晶片上接触高频器件进行封装测试或最终测试的解决方案。CBOA探针的鲁棒设计和材料通过提供更长的寿命和更高的产量来承受大批量试验的严格。均匀的DUT侧柱塞在清洁和增加的探针寿命之间提供更长的运行时间。
CBOA具有用于三温度测试的不锈钢弹簧，在-55°C至+ 155°C的工作温度下执行。具有高达27 GHz的带宽，CBOA可用于测试一些最高频率的设备。
增强型合规窗口良好地容纳封装堆叠高度公差。
凯克接触器/探头头
下一代5g mmwave的最低码，高达54+ GHz
克拉卡利用鲁棒弹簧探头技术，用于测试晶圆探头（凸块/垫）应用的单一的封装或探头头，具有细间距和WLCSP兼容性 - 范围为150μm至650μm，覆盖大部分5g器件。
克拉克配有不锈钢弹簧，用于三温度测试和操作温度-55°C至+ 155°C的性能。
图标同轴电道接触器
同轴生产解决方案，用于测试高端数字应用到60 Gbps
专门设计用于通过接触器到测试系统将设备欠测试（DUT）的天然阻抗维持，通过最小化信号反射（返回损耗）来最大化高频电力传输。
图标的金属机身是法拉第屏蔽/笼子，可减少串扰（电磁辐射）信号抖动的主要原因。除此之外，铝体是否堵塞了静态和非静态外部电场（随机噪声）。
水银接触器/探头头
行业首选高性能，高价值，低成本Quadtech接触解决方案
汞探头和接触器是实验室的优秀弹簧探针，但实验室是设计的高批量生产测试所需的强大品质。它们独特的设计可确保低，恒定电阻，长寿命和高测试产量的优异电镀质量。汞探针可提供0.3mm，0.4mm，0.5 mm和0.8mm的最小间距，为任何器件间距提供最佳性能。汞探头具有高达22 GHz的带宽，可以携带超过3个电流。汞是任何测试应用的绝佳选择。
米隆接触器
验证悬臂技术，为MCU和Asics
Micon是弹簧引脚占用件兼容支持先进的温度要求以及先进的电源/电流要求。足迹兼容性允许从弹簧引脚设置方便且成本高效的转换。弹簧的完全分离的载荷板侧确保了载荷板垫的劣化。
Micon采用单件设计，可确保长时间寿命，低且稳定的接触电阻，高电流承载能力和延长的温度范围。Micon允许以完整的规格值进行测试。延长的操作范围适用于器件引线装饰，形成可变性，如设备对准精度和设备引线共面。
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