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DxV测试系统

通过生产测试改变设计规则

Diamondx DxV提供全半导体ATE性能在桌面PC足迹。电子游戏注册秒送88完全集成，超紧凑的测试系统设计用于工程实验室或办公室。不像传统的半导体ATE解决方案，没有主电子游戏注册秒送88机，单独的工作站或支持柜需要。DxV是完全独立的，所以它可以放在工作台或桌面:

  • 超紧凑，零占地面积，重量轻，单盒设计
  • 风冷，低环境噪音，适用于办公环境
  • 节能、低能耗
  • 非常适合实验室开发和大批量生产
产品表 仪表
DxV

  • 突出了

    • 全半导体A电子游戏注册秒送88TE性能在台式机的足迹
    • 紧凑，重量轻，单盒设计
    • 可携带使用脚轮或轻量级机械手
    • 适用于实验室、办公室或生产测试场所
    • 高吞吐量
    • 广泛的测试技术，包括高速和高密度

  • 关键特性

    • 利用Diamondx高性能PCIe架构
    • 工作站内部系统完全集成
    • 5种仪器槽配置范围的Diamondx仪器
    • 软件兼容其他Cohu测试平台
    • 真正的零足迹生产设置
    • 硅验证和评估后
    • 工程样品或质量测试和分析
    • 高通量晶圆和WLCSP测试应用
    • 低批量样品或质量测试和分析

  • 体系结构

    • 与Diamondx共享的通用槽架构
    • 简单的系统重新配置，以覆盖广泛的应用程序
    • 一系列数字，模拟和DSP仪器
    • PCI-Express2数据总线可在系统CPU和测试头之间实现80Gbps的双向传输
    • Unison OS提供了一套完整的测试软件工具，包括扫描测试、并发测试、自适应测试、单元级可追溯性多站点设置等
    • 系统级校准和诊断

  • 应用程序

    • 物联网和传感器设备测试
    • 硅验证和评估后
    • 工程样品或质量测试和分析
    • 高通量晶圆和WLCSP测试应用
    • 低批量样品或质量测试和分析

仪表

ATMPx
模拟时间测量处理器

  • 通过每引脚可编程比较器水平和可编程滞后，灵活的定时测量
  • 使用SmartMux进行高压定时测量，降低了负载板的复杂性
产品表

DPS16
16通道设备电源

  • 具有成本效益的多站点测试解决方案
  • 6v力和测量高达2a输出
  • 通道可以组合以达到16a
  • 四个电流范围使更好的精度
产品表

DPS1x
高性能设备电源

  • 多核应用处理器及其他大电流、低压器件的多站点测试
  • Drop-in替代DPS16与增强的能力
产品表

HDVI
用于大规模多场测试的高密度电压电流仪

  • 业界最高的V/I引脚密度
  • 电压/电流供电(VIS)模式
  • 精密模拟源(PAS)模式
  • 灵活的触发选项
  • 外部输入矩阵
产品表

PD1x / PD2x
超高清显示驱动芯片测试解决方案

  • 用于移动和平板电脑应用的集成显示驱动程序，包括触摸和显示驱动集成(TDDI)
  • 大屏幕电视和监视器应用，包括超高清晰度和240Hz刷新率
  • 扩展范围选择
  • 每个通道128k捕获内存
  • 工业和汽车显示驱动器
产品表

PMVIx
用于移动电源管理，SOC，汽车和MCU芯片的电压/电流源

  • 满足集成移动电源管理设备的测试挑战，拥有数十个DC-DC和线性稳压器，范围从100毫安到几个安培
产品表

VIS16
精密的电压/电流源和具有先进功能的测量

  • 16通道，四象限电压/电流源和测量
  • AWG和数字化功能
  • 时间测量
  • 差分电压的措施
  • 计时器，触发器和门
  • 警报
产品表

dpin - 96

测试数字和混合信号器件的高价值解决方案

  • 灵活的时间
  • 可重构模式记忆
  • 捕捉记忆深处
  • 高精度PMU
  • 内置的时间测量
  • 超电压
  • 全面的软件工具
产品表

GX1x

用于数字SOC、模拟SOC和单片机数字测试的通用数字仪器

  • 灵活的模式内存分配
  • 多个模式生成
  • 发送和接收数字化波形
  • 直流和交流模拟测试仪器的模式同步和控制
产品表

HSI1x

Scalabale，高性价比的高性能SerDes测试解决方案

  • 内置PRBS BERT TX/RX的物理层测试
  • 使用高带宽驱动器/比较存储器的BIST/DFT测试
  • 使用深度发送模式存储器的协议级别和混合信号测试
产品表

HSI2x

高速解决方案SerDes/LVDS/MIPI接口

  • 内置PRBS BERT TX/RX的物理层测试
  • 使用高带宽驱动器/比较存储器的BIST/DFT测试
  • 使用深度发送模式存储器的协议级别和混合信号测试
产品表

HSIO
8 Lane SerDes测试仪用于高速串行接口测试

  • 内置PRBS BERT TX/RX的物理层测试
  • 使用高带宽驱动器/比较存储器的BIST/DFT测试
  • 使用深度发送和接收模式存储器的协议级别测试
产品表

MP1x

LVDS端口和DDR内存端口测试的优化解决方案

  • 配合简化DUT板DDR内存控制器的接口结构和要求
  • 支持内置的内存协议支持
  • 相同的周期匹配能力，支持多达8个周期的数据延迟
产品表

多波
用于多站点并发测试的高度集成混合信号仪器

  • 宽带宽模拟源
  • 宽带宽模拟捕获
  • 灵活的触发
  • 高精度PMU
  • I / O通道保护
  • 简单的测试板
  • 混合信号软件支持
产品表
  • 模拟时间测量处理器
  • 测试数字和混合信号器件的高值解决方案
  • DPS16 -设备电源
  • 高性能设备电源
  • 用于数字ASSP，模拟ASSP和单片机数字测试的通用数字仪器
  • 高密度电压/电流浮动可编程电源
  • 可扩展的，低成本的解决方案的高性能SerDes Tets
  • 高速解决方案SerDes/LVDS/MIPI接口
  • HSIO: 8 Lane SerDes Instrument for Testing of High Speed Serial Interfaces
  • 优化的解决方案LVDS端口和DDR内存端口测试
  • 多波-高度集成混合信号仪器
  • PD2x -超高清显示驱动芯片测试解决方案
  • 用于移动电源管理，ASSP，汽车和MCU芯片的电压/电流源
  • 具有先进功能的精密电压/电流源和测量

额外的信息

DxV将设计规则修改为生产测试流程。它提供了灵活性和紧凑的尺寸，用于办公室或小型台式实验室的情况下，但具有高性能，高密度仪器在高产量生产测试环境提供真实的ATE性能。

DxV采用了与成功的Diamondx相同的经过验证的架构，凭借其超紧凑的占地面积和与其他设计验证工具的链接，可以轻松地用于硅验证和初始生产阶段的需求。通过这些硅验证第三方软件工具和第三方硬件仪器的链接，DxV是理想的生产前工程测试系统。

测试系统是一个独立的单元，带有一个嵌入式高性能Linux控制器，运行Cohu的Unison测试环境和相关工具。“单箱”设计和较低的总重量使得当对接到探测或最终测试材料处理程序时，真正的零足迹测试地板冲击。

一般来说，基本系统小于50磅，采用空气冷却和200- 240v的单相低供电要求，与传统高性能ATE相比，在设施成本方面的拥有成本经济显著降低。

DxV有5个高吞吐量Diamondx兼容插槽，允许配置一系列Diamondx仪器，数字选项跨越高密度192通道通用全功能数字引脚存储端口和6.4 Gbps高速串行。

直流和混合信号仪器包括72通道VI解决方案和24位转换器选项。

DxV是一个全功能的ATE在一个桌面大小，提供了灵活性和允许使用仅受想象力限制。

专业知识

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