Chybrid Turret Kelvin测试接触器（插座）

对于铅和无铅器件，低至0.3 mm x 0.6 mm

紧凑型多束销结构，用于高密度系统在炮塔处理器上集成，并排设计非常小的垫尺寸。

Chybrid Kelvin Contorpor（插座）包含一个新的和独特的触点弹簧架构，允许测试插座适应当今和未来小包装类型的IC焊盘几何要求。寿命最多可达300万次触幅，具有最佳的接触电阻可重复性可重复降低测试成本。多芯片触点结构根据具有挑战性的电气测试要求优化信号完整性和电流能力。

Chybrid Kelvin接触器（插座）带有多芯片触点弹簧架构，可提高产量和长寿，最小化清洁周期。这种创新解决方案将帮助客户降低成本并最大限度地提高生产率。