汽车测试复合材料销

• 复合针式仪器可以测试CAN和LIN，符合这些汽车产品所要求的SAE标准赚钱捕鱼app排行
• 通过CAN和LIN负载和LIN驱动器减少负载板复杂性，以及用于DUT引脚连接的多个资源的集成开关路径
• 瞬态检测能力在程序开发或生产测试中捕获设备的扰动

模拟时间测量处理器

• 通过每针可编程比较器水平和可编程滞后灵活的定时测量
• 使用SmartMux进行高压定时测量，降低了负载板的复杂性

测试数字和混合信号器件的高价值解决方案

• 灵活的时机
• 可重构模式记忆
• 深度捕捉记忆
• 高精度PMU
• 内置时间测量
• 超级电压
• 全面的软件工具

高电压，大电流浮动可编程电源

• 具有高功率脉冲模式操作的快速吞吐量
• 瞬态检测能力在程序开发中捕获设备的扰动，或生产测试
• 使用SmartMux降低了负载板的复杂性，用于高压和电流信号路由
• 专家模式，最大限度地提高仪器的能源效率

32路数字仪表

• 完全独立的编程时间和水平上的每个频道
• 与其他仪器同步信令
• 读写存储器，用于生成用于射频前端应用的数字协议
• 多站点的编程模型
• 全图案序列在200mbps

数字SOC，模拟SOC和MCU数字测试的通用数字仪器

• 灵活的模式内存分配
• 多种模式生成
• 发送和接收数字化波形
• 直流和交流模拟测试仪器的模式同步和控制

高功率电压/电流可编程电源

• 具有高功率脉冲模式操作的快速吞吐量
• 瞬态检测能力在程序开发中捕获设备的扰动，或生产测试
• 使用SmartMux降低了负载板的复杂性，用于高压和电流信号路由

高性能SerDes测试的可扩展、经济有效的解决方案

• 内置PRBS BERT TX/RX的物理层测试
• 使用高带宽驱动器/比较存储器的BIST/DFT测试
• 协议级混合信号测试使用深发送模式存储器

SERDES / LVDS / MIPI接口的高速解决方案

• 内置PRBS BERT TX/RX的物理层测试
• 使用高带宽驱动器/比较存储器的BIST/DFT测试
• 使用Deep发送模式存储器的协议级和混合信号测试

8 Lane SerDes测试仪用于高速串行接口测试

• 内置PRBS BERT TX/RX的物理层测试
• 使用高带宽驱动器/比较存储器的BIST/DFT测试
• 协议级别测试使用深发送和接收模式存储器

超高清显示驱动芯片测试解决方案

• 用于移动和平板电脑应用的集成显示驱动程序，包括触摸和显示驱动集成(TDDI)
• 大型面板电视和监控应用，包括超高清和240Hz刷新率
• 扩展范围选择
• 每个通道128k捕获内存
• 工业和汽车显示驱动器

LVDS端口和DDR内存端口测试的优化解决方案

• 匹配用于简化DUT板的DDR内存控制器的接口结构和要求
• 支持内置的内存协议支持
• 相同的周期匹配能力，支持最多8个周期的数据延迟

4通道浮动VI，用于需要更高功率的应用，浮动VI

• 完整的四个象限操作，在+/- 60 v的范围内每通道提供脉冲电流，可达5次
• 可内部并联运行高达20a，可堆叠至240v
• 自动定序器，仪表每引脚和纹波输入

四边形时间测量处理器

• 每膳四个独立的时间测量通道
• 每个通道都有自己的直接路径，可以通过3个电压范围和3个可选过滤器进行编程

精密电压/电流源和用于汽车和工业设备的先进功能的测量

• 先进的功能，如每个通道的调制发生器和数字化仪，使VI1x可以用于各种设备的测量
• 内部和外部触发器的组合可用于门和取样最大限度的测试灵活性
• 一个时间测量单元可以测量上升和下降时间、脉冲、周期、频率和时间差，使VI1x成为一个真正的多功能仪器